产品功能描述

显示驱动芯片晶圆探测自动测试设备是一款集成了高性能独立测试通道的CP测试机，用于对Driver IC的电性能测试，包括DC参数测试、AC参数测试以及Function测试。设备测试效率高，具备并行测试能力，可同时对多个DUT并行测试，且每个测试通道可独立处理测试需求；适用芯片范围广，具有可扩展的平台架构，通过灵活配置可实现一机多用，满足多种不同类型芯片的测试需求。测试准确率高，配置有PPMU、时序校准、DC测量校准等功能模块，可实现精准pattern和高精度参数测量。配置DFT向量测试功能，能满足DFT测试需求。上述功能特点，使其具备更广的测试覆盖率、更高效的测试效率和更精准的测试结果，可帮助用户提升芯片良率，降低综合测试成本。

功能应用展示

本设备测试时需搭配探针台模块

配套软件

该测试设备的配套软件为精鸿自主研发的CP TEST SYSTEMV1.0，支持工程师和生产两种工作模式，既可用于研发阶段芯片功能验证，又可用于批量生产测试。

应用终端

本设备主要应用于半导体行业，面向Driver IC CP测试领域，满足Driver IC客户和第三方封测厂的测试需求。

·  高测量精度

配置有PPMU、时序校准、DC测量校准等功能模块，可实现精准pattern和高精度参数测量，为客户提供更高的测量精度和测试可靠性。

·  友好交互界面
自主研发UI控制界面，为客户提供操作简单、界面友好的交互体验。

·  高并行测试效率
设计有针对存储器CP测试系统PMU单元的Per Pin架构，可实现对整机配置的936个IO通道的并行测试，帮助用户加快测试时间，提升测试效率，降低综合测试成本。

·  可定制测试流程
配置可定制化系统控制模块，支持可定制的测试流程，即支持用户自定义存储芯片的功能和逻辑测试项、支持开放接口由用户开发外设控制的测试项，最终实现用户根据测试需要和测试计划，定制整体测试流程。

·  支持DFT测试
配置DFT向量测试功能，可配合DFT设计端共同开发测试向量，将WGL等向量文件转换成pattren，进行流程化测试满足客户DFT测试需求。

在使用显示驱动芯片晶圆探测自动测试设备进行CP测试时，需搭配探针台、探针卡等配套设备/器件使用，客户可根据需要自行购买或委托我司配置。

应用实例

已成功应用于Driver IC芯片的CP测试。

技术升级

在现有技术基础上，开发用于大批量生产测试的机型，提升并测数，降低用户综合测试成本。

服务优势

·  原材料品质保障：关键物料选用一线品牌高端材料和半导体领域高端SMT工艺，且经过可靠性认证。

·  7×24h响应：本土AE/FAE团队，7*24H电话及现场响应，风险及时排查，保内免费更换。

·  定制化服务：根据客户需求，可提供DUT测试应用的定制开发、全流程定制化ATE测试解决方案。