首页
关于精测
基本信息
总裁寄语
经营理念
新闻中心
企业文化
产品中心
半导体
老化测试系统
DRAM高速老化测试系统
DRAM高速老化测试系统（可靠性测试专用）
存储器高速老化测试系统
通用低速老化测试系统
集成老化测试系统
晶圆探测自动测试设备
存储器晶圆探测自动测试设备
显示驱动芯片晶圆探测自动测试设备
最终测试自动测试设备
存储器最终测试自动测试设备
膜厚量测系统
SCALE™ Series
MetaPAM™ Series
EFILMm™ Series
光学关键尺寸量测系统
EPROFILE™ Series
电子束缺陷检测系统
AeroScan™ Series
eView™
形貌测量
TG™ Series
电子束关键尺寸量测系统
eMetric™
显示
信号驱动与检测系统
LCD液晶模组图像信号发生器及电性测试系统
OLED液晶模组图像信号发生器及电性测试系统
Micro LED&Micro OLED电性测试系统
Mini LED背光电性测试系统
自动化CELL老化系统(ACA)
治具
仪器仪表
色彩分析仪
分光色度仪
色彩管理综合测量仪
亮色度计系列
光谱仪系列
光谱分光式亮色度计系列
闪烁及响应时间测量系列
成像式视角测量系列
ARVR测量系列
光学检测与良率管理系统
AVI外观检查集成系统
API画面检查集成系统
调测与修复系统
Demura色斑修复集成系统
Gamma模组调测系统
多功能良率管理系统
智能自动化装备
Mini/Micro检测设备
Micro LED OLED微显示器模组AOI
Mini LED点灯检测设备
晶圆探针台点灯AOI
Mini LED芯片外观检测设备
墨色分选检测设备
Mini LED玻璃基线路检测设备
NED检测设备
新能源
动力电池智能装备生产线
化成分容自动线JN系列
切叠一体机
电芯装配线
视觉检测系统:锂电池外观检测系统
锂电池检测设备
充放电电源
双向ACDC电源
JN84中功率电子负载
JN502双向高压直流源
NMP气体浓度检测仪
电源测试设备
电池测试设备
BMS测试设备
燃料电池测试系统
PEM电解水制氢测试系统
燃料电池发动机测试系统
博士后科研工作站
机构介绍
导师介绍
招聘信息
博士后业务
科学研究
政策规章
博士后联谊会
博士风采
服务与支持
售后服务
下载中心
联络我们
投资者关系
年报摘要
中
中
英
搜索
Go!
NewsCenter
新闻中心
基本信息
总裁寄语
经营理念
新闻中心
企业文化
活动与论坛
企业新闻
宣传图库
筛选:
请选择年份
2023
2022
2021
2020
2019
媒体报道
展会论坛
集团图库
《色彩分析仪测评方法》团体标准发布会
2023武汉光博会
精测电子参与编撰《MiniMicro LED显示产业白皮书》盛大发布
1
